Testing, reliability and application of micro- and nano-material system II - 15-17 March 2004, San Diego, California, USA

Författare
(Norbert Meyendorf, George Y. Baaklini, Bernd Michel, chairs/editors)
Genre
Konferenspublikation
Språk
Engelska
Förlag År Ort Om boken ISBN
Cop. 2004 USA 272 sidor. 0-8194-5309-9